Przejdź do treści

Laboratorium badań rentgenowskich i mikroskopii skaningowej

Laboratorium Badań Rentgenowskich oraz Mikroskopii Skaningowej prowadzi badania usługowe w zakresie mikroskopii i dyfraktometrii, w szczególności:

 

W zakresie mikroskopii skaningowej:

 

1. badania struktury oraz przełomów stopów żelaza, metali kolorowych oraz ceramiki,

2. badania struktury i powierzchni materiałów nieprzewodzących (w tym próbek biologicznych) realizowane w trybie niskiej próżni,

3. punktowe, liniowe oraz powierzchniowe analizy składu chemicznego metodą EDS,

4. analizy orientacji krystalograficznych oraz identyfikację fazową z wykorzystaniem dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych EBSD,

5. badania katodoluminescencji,

6. preparatykę wysokiej jakości zgładów metalograficznych przy wykorzystaniu polerki jonowej.

 

W zakresie dyfraktometrii rentgenowskiej:

 

1. analiza fazowa jakościowa i ilościowa,

2. analiza fazowa jakościowa w podwyższonych temperaturach (do 2300°C),

3. pomiar naprężeń,

4. badania cienkich warstw i powłok w geometrii GIXRD,

5. badania reflektometryczne (XRR),

6. analiza tekstury,

7. pomiar zawartości austenitu szczątkowego.

 

Nasze zaplecze badawcze to:

- mikroskop skaningowy JEOL JSM-6610LV (obserwacje z powiększeniem do 300.000x, mikroanalizy składu chemicznego EDS, analizy elektronów wstecznie rozproszonych EBSD, system Gatan - katodoluminescencja),

- dyfraktometr rentgenowski PANalytical Empyrean (badania jakościowej oraz ilościowej analizy składu fazowego XRD, badania jakościowej oraz ilościowej analizy składu fazowego w funkcji temperatury, badania parametrów cienkich warstw i układów wielowarstwowych metodami reflektometrii oraz stałego kąta padania GIXRD, pomiary naprężeń własnych, analizy tekstury),

- polerka jonowa JEOL-09010CP (preparatyka wszelkiego rodzaju materiałów, od metalicznych poprzez ceramiki po materiały organiczne, przygotowanie powierzchni do obserwacji SEM a zwłaszcza analiz EBSD dzięki unikaniu plastycznych odkształceń),

- dyfraktometr rentgenowski PROTO iXRD (pomiary naprężeń własnych w żelazie i jego stopach oraz  tytanie i jego stopach, w geometrii omega, według normy SAE HS-784 i  PN-EN 15305, pomiar zawartości austenitu szczątkowego w stalach według normy ASTM E975).

 

mikroskop