Kalendarium

September 2017

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

October 2017

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

November 2017

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

December 2017

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

January 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

February 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28

March 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

April 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

May 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

June 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

July 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

August 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

September 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

October 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

November 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

December 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

Pracownia Dyfraktomerii i Mikroskopii

Budynek A18

Pomieszczenia 324 oraz 338

 

 Kierownik   pracowni

  Pracownicy

 Dr inż Damian  Batory 

tel:  42 631 3069 

email:  damian.batory@p.lodz.pl

 - Dr inż.  Bartłomiej Januszewicz 

email:  bartlomiej.januszewicz@p.lodz.pl 

 - inż. Anna   Olejnik


 



Pracownia dyfraktometrii i mikroskopii realizuje badania w ramach działalności naukowo dydaktycznej pracowników Instytutu Inżynierii Materiałowej Politechniki Łódzkiej


Zakres prac realizowanych przez pracownię obejmuje:

-Preparatykę wysokiej jakości zgładów metalograficznych przy wykorzystaniu polerki jonowej

-Badania morfologii stopów żelaza, metali kolorowych oraz ceramiki

-Badania morfologii materiałów nieprzewodzących realizowane w niskiej próżni

-Punktowe, liniowe oraz powierzchniowe analizy składu chemicznego metodą EDS

-Analizę orientacji krystalograficznych z wykorzystaniem dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych EBSD

-Badania jakościowej oraz ilościowej analizy składu fazowego XRD z wykorzystaniem bazy danych ICDD PDF4

-Badania jakościowej oraz ilościowej analizy składu fazowego w funkcji temperatury (od temperatury otoczenia do 23000 C)

-Badania parametrów cienkich warstw i układów wielowarstwowych metodami reflektometrii oraz stałego kąta padania GIXRD (Grazing Incidence XRD)

-Pomiary naprężeń własnych (omega/chi stress) prowadzone w oparciu o klasyczną analizę (single -{hkl} sin2y) oraz dla stałego kąta padania (multiple -{hkl} sin2y)

-Analizę tekstury

Podstawowe wyposażenie pracowni stanowią:

 -Mikroskop skaningowy JEOL JSM-6610LV zintegrowany z systemami MiniCL-GATAN Cathodoluminescence Imaging System i
Oxford Instruments (EDS X-MAX 80 oraz systemem do akwizycji elektronów wstecznie rozproszonych  EBSD NordlysMax detektor). Mikroskop może pracować w dwóch trybach: wysokiej próżni (HV – High Vacum Mode) oraz niskiej próżni (LV – Low Vacum Mode).

Badania prowadzone są przy wykorzystaniu oprogramowania EDS AZtecEnergy oraz EBSD AztecHKL.

Teoretyczna rozdzielczość mikroskopu wynosi 3.0 nm dla Acc = 30 kV oraz WD=8 mm. Maksymalne powiększenie mikroskopu wynosi ´ 300.000

 

-Polerka jonowa JEOL-09010CP Cross Section Polisher

-Dyfraktometr rentgenowski Empyrean firmy PANalytical, dwukołowy o średnicy goniometru 240 mm, mogący pracować
 w geometrii Bragg-Brentano jak również w geometrii wiązki równoległej. Układ wyposażony może być w 3 źródła promieniowania; Cu, Co oraz Cr; o ognisku liniowym lub punktowym (w zależności od potrzeb). Urządzenie wyposażone
jest w cztery wymienne stoliki: do badań próbek płaskich, proszków (z możliwością obrotu), do pomiarów w kapilarze oraz stolik 5-cio osiowy (X-Y-Z-phi-chi). Po stronie wiązki pierwotnej możliwe jest zastosowanie luster Goebla dla uzyskania wiązki równoległej dla analizy fazowej oraz naprężeń w  cienkich warstwach oraz reflektometrii, a także soczewki promieniowania rentgenowskiego dla analizy tekstury, naprężeń w geometrii chi lub próbek o małych rozmiarach. Linia wiązki rozproszonej wyposażona jest w dwa detektory: detektor półprzewodnikowy (paskowy) oraz licznik proporcjonalny. Opcjonalnie w linii
wiązki rozproszonej z detektorem proporcjonalnym istnieje możliwość zastosowania monochromatora płaskiego (regulowanego w zależności od zastosowanego źródła promieniowania). Dodatkowa kamera goniometru umożliwia pomiary wysokotemperaturowe w zakresie od temperatury otoczenia do 2300oC. Badania prowadzone są przy wykorzystaniu oprogramowania:

- X’PERT Data Collector

- Stress Plus

- X’PERT Reflectivity

- X’PERT Texture

Galeria