Kalendarium

November 2017

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

December 2017

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

January 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

February 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28

March 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

April 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

May 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

June 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

July 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

August 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

September 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

October 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

November 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

December 2018

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

Aparatura

Program badawczy i naukowy realizowany w Instytucie możliwy jest dzięki potencjałowi ludzkiemu oraz bogatej i często unikalnej aparaturze będącej w posiadaniu Instytutu. Posiadana aparatura badawcza daje możliwości badania bardzo szerokiego spektrum własności materiałów i elementów konstrukcyjnych czy narzędzi - począwszy od badań struktury, składu chemicznego i fazowego, poprzez badania określające własności mechaniczne i eksploatacyjne (np. twardość, odporność na ścieranie, wytrzymałość na rozciąganie, udarność itp.), grupę badań własności fizycznych (np. optycznych, elektrycznych) i chemicznych (np. odporność korozyjna w różnych środowiskach gazowych i elektrochemicznych)

Mikroskop ramanowski inVia

 

- Mikroskop inVia Renishaw to zautomatyzowany, dyspersyjny system ramanowski o konstrukcji modułowej, który umożliwia pomiary rozpraszania ramanowskiego w zakresie falowym UV-VIS-NIR.

Pozwala on na szybkie uzyskiwanie wysokorozdzielczych widm spektralnych w zakresie od 100 do 3200 cm-1, map ramanowskich oraz profilowanie warstwowe.

Jest systemem jednowiązkowego spektrometru Ramana sprzężonego z mikroskopem optycznym firmy Leica. Trójokularowa głowica mikroskopu zawiera binokular, kolorową kamerę wideo i zestaw obiektywów.

Układ pozwala na automatyczną kalibrację i justowanie z wykorzystaniem wewnętrznej próbki kalibracyjnej i niezależnego źródła światła.

Podstawowe wyposażenie mikroskopu to:

- dwa diodowe lasery wzbudzające o długości fali 532 nm oraz 785 nm,

- jednowiązkowy spektrometr Ramana

- mikroskop optyczny firmy Leica

- wysokoczułą kamerę wideo

- chłodzony termoelektrycznie czuły detektor CCD,

- automatycznie sterowany, zmotoryzowany stolik mikroskopowy XYZ wraz z układem sterującym,

- joystik do pozycjonowania próbki

- akcesoria oraz uchwyty do pomiarów makro pod mikroskopem

- antywibracyjny stół montażowy

- komputer wraz z oprogramowaniem.


Mikroskop inVia Renishaw jest wysokoczułym systemem umożliwiającym wykonywanie pomiarów konfokalnych o dużej rozdzielczości, wynoszącej min. 1cm-1, w zależności od zastosowanej długości fali.


Badania prowadzone są przy wykorzystaniu najnowszego oprogramowania WiRETM 4, umożliwiającym gromadzenie, analizę oraz przegląd obszernych zbiorów danych jak również generowanie obrazów w wysokiej rozdzielczości.


Możliwość obrazowania Ramanowskiego StreamLine pozwala na szybką generację map 2D o wysokiej rozdzielczości na dużych obszarach próbki  (Obrazowanie Ramanowskie w modzie StreamLineTM Plus).